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當前位置：首頁產品中心瞬態(tài)吸收系列超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)UPSI100超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)

超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)

產品簡介

超快陰影泵浦探測,飛秒陰影泵浦探測,超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要利用調節(jié)pump和probe光之間的光程差來進行測試。首先激光打在樣品上，樣品表面會產生一定程度的損毀，由于本過程很快（ps量級）因此單使用相機連續(xù)采集不能夠完整的觀察到整個損毀的過程。

更新時間：2024-12-04
廠商性質：生產廠家
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超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要利用調節(jié)pump和probe光之間的光程差來進行測試。首先激光打在樣品上，樣品表面會產生一定程度的損毀，由于本過程很快（ps量級）因此單使用相機連續(xù)采集不能夠完整的觀察到整個損毀的過程。在本儀器中，當每一次激光打在樣品后，便可通過延遲線調節(jié)兩個光脈沖之間的延遲，從而分別采集激光打在樣品后不同時刻樣品損毀情況。

超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)UPSI100主要技術指標：

檢測模式

超快光損傷/等離子濺射

時間窗口范圍

8 ns

探測器類型

ICCD，門控時間3 ns

探測時間分辨率

1.5倍激光脈寬

激發(fā)光聚焦鏡頭

20X/50X 可選

樣品移動方式

全自動樣品二維電控移動平臺

軟件功能

數據采集/分析軟件

超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)

超快泵浦探測陰影成像系統(tǒng)

本功能主要利用相機的門采集功能以及延遲來采集不同時刻，樣品等離子體濺射過程。整個測試流程是激光聚焦打在樣品上，樣品會產生等離子體此時相機的曝光時間固定，曝光時間就相當于一個“門"，再通過時序來調節(jié)“門"相對于激光打在樣品上的時間為0來進行延遲，從而分別拍出不同時間等離子體的濺射過程。

 

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